超快速冷熱沖擊試驗機

簡要描述：超快速冷熱沖擊試驗機適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行IC 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。

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詳情介紹

超快速冷熱沖擊試驗機工作原理

1，試驗機輸出氣流罩將被測試品罩住，形成一個較密閉空間的測試腔，試驗機輸出的高溫或低溫氣流，使被測試品表面溫度發生劇烈變化，從而完成相應的高低溫沖擊試驗；

2，可針對眾多元器件中的某一單個IC或其它元件，將其隔離出來單獨進行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件，與傳統冷熱沖擊試驗箱相比，溫變變化沖擊速率更快

超快速冷熱沖擊試驗機滿足試驗標準

1．GB/T 2423.1-2008試驗A：低溫試驗方法；

2．GB/T 2423.2-2008試驗B：高溫試驗方法；

3．GB/T2423.22-2012試驗N: 溫度變化試驗方法

4. GJB/150.3-2009高溫試驗

5. GJB/150.4-2009低溫試驗

6. GJB/150.5-2009溫度沖擊試驗/快速降溫儀

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